4月7日，作为“测试技术”课程的阳光课堂环节，该课程师生参加了美国国家仪器有限公司（NI）在深圳举办的“2016NI智能工业控制与设备状态监测应用研讨会”。
研讨会主要是关于基于平台的嵌入式系统设计方法、加速定制嵌入式控制与监测系统的研讨。利用高性能嵌入式控制器简化控制系统复杂度，研讨会主要介绍了全新CompactRIO高性能嵌入式控制器、用于设备在线状态监测的软件解决方案NI InsightCMTM Enterprise和Labview在监测系统中的使用方法。
会上，同学们聆听了NI公司资深工程师关于嵌入式控制与监测系统相关的主题演讲，观摩了公司在该领域解决方案的Demo演示，与工程师们进行了技术交流。
通过本次活动，同学们对嵌入式控制和监测平台有了新的认识，此次阳光课堂达到了预期的效果。（孙宇、曹力科）
图为NI工程师的演讲
图为NIDemo演示平台
图为师生与NI工程师合影
