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X射线衍射仪

1.1  X-射线发生器：

★1.1.1 最大输出功率：≥600W；

1.1.2 额定电压：≥40KV，额定电流：≥15mA；

1.1.3 稳定度：≤±0.05% (外电路波动±10%)；

1.1.4 X-射线波长：Cu Ka；

▲1.1.5 最小焦斑尺寸：≤0.4 x 8mm²；

1.2 测角仪系统：

▲1.2.1 扫描方式：θ-2θ联动；

1.2.2 角度最小步进：≤0.005°；

1.2.3 测角仪可动范围：≥-3°～145°；

▲1.2.4 测角仪半径：≥150 mm；

1.2.5 狭缝：配置索拉狭缝、限高狭缝以及入射/散射和接收系统狭缝；

▲1.2.6 配置自动可调散射光刀锋单元，可满足全角度连续测试；

1.3 探测器：

1.3.1 类型：半导体一维硅阵列探测器；

★1.3.2 探测器有效面积：≥250mm²；

1.3.3 线性计数范围：≥1×10⁸cps；

1.3.4 最小背景：≤0.1cps；

1.4 仪器控制系统和软件系统：

1.4.1 仪器控制系统：配置不低于：配置不低于正版Windows10操作系统，i5处理器，不低于4G内存，硬盘500G以上，8倍速可刻录光驱，不低于27英寸LCD显示器，黑白激光打印机。

1.4.2 运行在Windows 环境下仪器控制和分析软件，分析功能包含以下：

1.4.2.1 数据处理：背景、平滑、扣除 Ka2、寻峰、积分等；

1.4.2.2 物相检索：含原始数据直接检索功能；单峰和多峰检索等；

1.4.2.3 物相定量分析：RIR、结晶度、无标样定量分析等；

1.4.2.4 晶粒尺寸、晶格畸变、应力等；

▲1.4.2.5 Rietveld结构精修分析。

1.4.3 提供最新正版数据库；

1.5 样品架

1.5.1 0.5mm深石英玻璃样品架：≥20只；

1.5.2 0.2mm深石英玻璃样品架：≥20只；

1.5.3 铝制中空块体样品架：≥20只；

1.5.4 无背景单晶硅样品架：≥2只；

1.6 原位电池

1.6.1 原位电池模具针对锂离子二次电池设计，支持正常充放电过程中，在线采集X射线衍射谱数据（反射式）；

1.6.2窗口材质：支持Be箔或Al箔或Cu箔；

1.6.3 可重复使用；

1.7 整机尺寸不大于650mm*750mm*550mm，重量小于95kg；

▲1.8 内置水冷却，无需其他冷却液；