性能指标及功能：测定波长范围： 240-2600nm。适合半导体、光学元件、新型材料的光谱性能研究，是功能强大的分光光度系统。其具有高性能的固体，液体，浑浊样品测试系统; 透射，镜面反射和漫反射都可测试;使用超大样品舱，样品最大可至430 x 430mm，比如玻璃板材，单晶硅片，液晶板，激光晶体，透镜组等超大、超长样品都可进行无破坏检测;紫外区最低可测至175nm。

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