原位X-射线衍射仪（Bruker D8 Advance）
资产编号 | 名称 | 型号 | 生产厂家 | 单位编号 | 备注 |
16002205 | 原位X-射线衍射仪 | D8 Advance | Bruker | 29143 | NA |
主要功能
X射线粉末衍射仪（XRD）是新材料研究领域的基础性设备。原位X射线粉末衍射仪不仅能够满足常规XRD对晶态材料物相定性与定量分析、确定材料的晶系、结晶化与畸变程度，而且还能够实现对晶态材料、二次电池元器件进行原位高低温、充放电、特殊气氛等条件下的晶体结构测试及分析。
技术参数
1、探测器：LYNXEYE XE-T型高能量分辨率（380 eV）色散阵列探测器；
2、测角仪：准确度0.005°，最小步长0.0001°，重复性0.0001°；
3、材料高温测试：室温～+1600℃；
4、电池原位测试：低温测试（-40℃～室温）、中温测试（室温～+100℃）、锂空电池测试等；
5、软件：完备的数据库及数据采集、处理软件，可实现半定量、定量相分析及结构分析。
